產品概述
能量色散X熒光光譜分析儀體積小、穩定性好、分析快速準確、運行成本低、操作維護方便、是控制產品質量的理想選擇。可測定鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、鉻Cr、溴Br等元素。硅半導體探測器，通過智能激發和檢測設計實現高靈敏度，用戶可自定義多曲線多光譜擬和分析方法，
適用于不同的應用場合。
? ? ? ? ? ? ? ??臺式X熒光光譜儀
產品優勢
無損檢測
在無標準樣品時亦可準確分析
?測量時間比化學方法短，不需要輔助材料
?計算機進行數據處理，分析快速準確
高分辨率圖形即時顯示，由不同色塊加以判斷區分
硅半導體探測器
?元素含量分析范圍為2 PPm到99.99%
?采用BG內標校正，提高非定性式樣測量精度
?全自動定量分析報告 簡捷準確
?自適應初試化校正
光譜的自動獲取和顯示
具有自動檢測儀器工作狀態的功能
自動判別樣品及自動分析
產品參數
Item ? | 內容描述 |
儀器型號 | EDXRF |
分析原理 | 能量色散X射線熒光分析法 |
分析元素范圍 | Na(11)-U(92)任意元素 |
檢出下限 | Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm |
樣品形狀 | 任意大小，任何不規則形狀 |
樣品類型 | 塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體等 |
X射線管 | 靶材 | 鉬（Mo）靶 |
管電壓 | 5─50KV |
管電流 | 1─1000ｕA |
樣品照射直徑 | 2、5、8mm |
探測器 | 美國進口Si-PIN探測器，高速脈沖高度分析系統 |
高壓發生器 | 美國SPELLMAN高壓發生器 |
前置放大器 | 美國進口前置放大器，與美國進口探測器兼容性好 |
主放大器 | 美國進口主放大器，與美國進口探測器兼容性好 |
AD轉換模塊 | 美國進口AD轉換模塊，與美國進口探測器兼容性好 |
ADC | 2048道 |
濾光片 | 6種濾光片自動選擇并自動轉換 |
樣品觀察 | 130萬彩色CCD攝像機 |
分析軟件 | 專利軟件產品 BX-V26版本，終身免費升級 |
分析方法 | 理論alpha系數法、基本參數法、經驗系數法 |
操作系統軟件 | WINDOWS XP（正版） |
數據處理系統 | 主機 | PC商務機型 |
CPU | P4 3.0 |
內存 | 512MB |
光驅 | 8xDVD |
硬盤 | 80G |
顯示器 | 17寸液晶顯示器 |
工作環境 | 溫度10－35С，濕度30－70％RH |
重量 | 60Kg（主機部分） |
外形尺寸 | 550（W）×450(D)×450(H)mm |
外部供電電源要求 | AC220±10%、50/60Hz |
測定條件 | 大氣環境 |
測試樣品時間 | 100－300秒可調 |
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應用領域
石化產品
塑料和聚合物
食品和化妝品
環境
礦石
醫藥
建筑材料
中心實驗室成品檢驗
金屬材料
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產品構成
工作原理
采用的是X射線熒光分析原理，受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量
儀器結構
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? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ??臺式X熒光光譜儀
數據系統
融合經驗系數法、基本參數法（FP法）等分析方法，測試數據的準確性能得到全面保證。
經驗系數法：儀器依據對標準樣品的測定，確定影響系數。對標準樣品要求高，需和待測樣品類型相近，校正模型簡單。
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基本參數法（FP法）：儀器根據實際檢測物質，通過對多種物理量建模計算確定參數。對標準樣品要求不高，計算較復雜，適合缺少對應標樣的物質檢測。
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軟件功能
元素含量分析范圍為2 PPm到99.99%
?采用BG內標校正，提高非定性式樣測量精度
?用戶自定義多曲線多光譜擬和分析方法
?全自動定量分析報告 簡捷準確
?自適應初試化校正
光譜的自動獲取和顯示。
具有自動檢測儀器工作狀態的功能。
自動判別樣品及自動分析。提供擴展接口，進一步作其他元素分析，從鈣到鈾元素。
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硬件
美國進口Si-PIN探測器，高速脈沖高度分析系統
美國SPELLMAN高壓發生器
美國進口前置放大器，與美國進口探測器兼容性好
美國進口主放大器，與美國進口探測器兼容性好
美國進口AD轉換模塊，與美國進口探測器兼容性好
尺寸＆重量
550（W）×450(D)×450(H)mm
60Kg（主機部分）
電源與環境要求
電源：220V±10％ ??50Hz
環境溫度：10℃-28℃
環境濕度: ≤70 ％RH(25℃室溫)
公司簡介
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