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X熒光光譜儀是光譜儀的一種款式，偏振X射線應(yīng)用于熒光分析，先進(jìn)的分析技術(shù)已成為實(shí)驗(yàn)室測定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。光譜儀對于元素分析有著精準(zhǔn)高效的優(yōu)質(zhì)性能，贏得廣大工業(yè)檢測人員和實(shí)驗(yàn)室人員的口碑認(rèn)可，X射線熒光光譜儀性能在處理檢測工作的時(shí)候顯得游刃有余，但是在光譜儀器工作運(yùn)行的時(shí)候，還是會(huì)存在或多或少的問題問題的，下面創(chuàng)想儀器就計(jì)數(shù)率不穩(wěn)定情況給大家講解下的分析和處理建議方案。

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X熒光光譜儀常用探測器有二個(gè)：閃爍計(jì)數(shù)器和流氣計(jì)數(shù)器。兩者相比較而言，閃爍計(jì)數(shù)器比流氣計(jì)數(shù)器是相對穩(wěn)定很多，所以通常而言，在光譜儀計(jì)數(shù)率不穩(wěn)定的時(shí)候，通常出現(xiàn)在流氣計(jì)數(shù)器的問題上面。

X熒光光譜儀

?檢查方法：在低X射線光管功率情況下，選一個(gè)KKα計(jì)數(shù)率約2000CPS的樣品，測定計(jì)數(shù)率，然后用一個(gè)鉀含量高的樣品取代原樣品，將光管調(diào)到滿功率，保持2分鐘，再將X射線光管功率減至原值，測量第一個(gè)樣品，如窗膜導(dǎo)電正常，將得到原計(jì)數(shù)率，如窗膜導(dǎo)電性能變差，會(huì)發(fā)現(xiàn)計(jì)數(shù)率減小，然后慢慢回升至初始值，這時(shí)就應(yīng)調(diào)換窗膜。??
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流氣計(jì)數(shù)器窗膜由一塊聚酯薄膜、hostaphan膜或聚丙烯薄膜鍍上一層很薄（約30nm）的鋁膜所構(gòu)成，由于窗膜承受大氣壓力，一段時(shí)間后隨著基體材料的延展，鋁膜可能產(chǎn)生裂紋，從而減弱導(dǎo)電性能，這種情況對脈沖高度分布影響不大，但會(huì)使計(jì)數(shù)率不穩(wěn)定。新型號(hào)的X射線熒光光譜儀一般都安裝1μm甚至0.6μm的窗膜，而不再使用6μm的窗膜，因此流氣計(jì)數(shù)器的窗膜導(dǎo)電性能下降的可能性增大。

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重金屬檢測儀

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