很多用戶都知道，手持式式光譜儀其無損檢測的特性，被非常多的客戶所青睞，但是相對于臺式直讀光譜儀，它是否可以測碳元素呢？
事實上，手持式光譜儀和臺式直讀光譜儀工作原理上是不一樣 的，手持式光譜儀，分為手持式X熒光光譜儀和手持式LIBS激光誘導擊穿光譜儀。而手持式X熒光光譜儀一般是不測碳元素的，而全譜直讀光譜儀和手持式LIBS激光誘導擊穿光譜儀是可以檢測碳元素的。
手持式X熒光光譜儀的工作原理是：一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器，當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時,驅逐一個內層電子從而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的狀態,當較外層的電子躍遷到空穴時,產生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發生俄歇效應,亦稱次級光電效應或無輻射效應。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不被原子內吸收,而是以光子形式放出,便產生X射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。
只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。?
全譜直讀光譜儀的工作原理是：樣品在激發光源下被激發, 其原子和離子躍遷發射出光, 進入光學系統被色散成元素的光譜線. 對選定的內標線和分析線的強度進行測量, 根據元素譜線強度與被測元素的濃度的相互 關系,采用持久曲線法和控制試樣法得到試樣中被測元素的含量。
手持式X熒光光譜儀和全譜直讀光譜儀在檢測精度啊上來說，因為各自的工作原理不同，手持式X熒光光譜儀因為其基于X射線熒光譜分析的原理，一般可以測F以后的大多數元素，對金屬元素的測量較非金屬元素來說要相對準確些，而F之前的元素則無法測量，屬于半定量測量，準確定量需要繪制標準曲線。而全譜直讀光譜儀測可以測量幾乎全元素，而且相較于手持式光譜儀來說要準確一些。
所以我們在選購一款光譜儀時也要明確我們自己的檢測需求，如果我們是以測全元素為主，而且要求檢測精度非常高的話，我們建議選擇全譜直讀光譜儀，而如果我們一般常規檢測是碳元素和其它部分非金屬元素時我們更傾向于推薦手持式光譜儀，因為手持式光譜儀小巧、便攜、無損、快速分特點還是非常不錯的。